1. 普通級(jí)（工業(yè)入門級(jí)）

• 核心指標(biāo)：示值誤差≤±10%（以 Ra 參數(shù)為基準(zhǔn)），分辨率≥0.01μm，重復(fù)性wu差≤5%。

• 適用場(chǎng)景：普通機(jī)械加工、鑄件、沖壓件等對(duì)精度要求較低的場(chǎng)景，如日常零件篩查、非關(guān)鍵部位檢測(cè)。

• 代表機(jī)型：部分國(guó)產(chǎn)便攜式入門款（如歐譜 OU1100、時(shí)代 TIME3200 基礎(chǔ)版）。

2. 精密級(jí)（工業(yè)通用級(jí)）

• 核心指標(biāo)：示值誤差≤±5%，分辨率≥0.001μm，重復(fù)性誤差≤3%。

• 適用場(chǎng)景：汽車零部件、常規(guī)模具、電子元件等主流精密制造場(chǎng)景，兼顧精度與成本。

• 代表機(jī)型：三豐 SJ-210、上海研潤(rùn) 2207 型、馬爾 MarSurf M100。

3. 高精度級(jí)（gao端工業(yè)級(jí)）

• 核心指標(biāo)：示值wu差≤±2%，分辨率≥0.0001μm（Z 軸），重復(fù)性wu差≤1%。

• 適用場(chǎng)景：航空航天零部件、gao端模具、醫(yī)療器械等關(guān)鍵部件檢測(cè)，需嚴(yán)控測(cè)量偏差。

• 代表機(jī)型：中圖儀器 SJ5800、英示 INSIZE ISR-S300、泰勒霍普森 Surtronic S-100。

4. 超高精度級(jí)（科研 / 超精密制造級(jí)）

• 核心指標(biāo)：示值wu差≤±0.5%~±1%，分辨率達(dá) 0.1nm~1nm，重復(fù)性wu差≤0.5%。

• 適用場(chǎng)景：半導(dǎo)體芯片、光學(xué)元件、納米級(jí)零件等超精密檢測(cè)，或科研實(shí)驗(yàn)場(chǎng)景。

• 代表機(jī)型：原子力顯微鏡（AFM）、白光干涉儀（如集萃中科 MTMI100）、共聚焦顯微鏡。

補(bǔ)充說明

• 分級(jí)核心參數(shù)以Ra（算術(shù)平均偏差） 為基準(zhǔn)，Rz、Rq 等參數(shù)的誤差范圍需與 Ra 等級(jí)匹配（通常略高于 Ra 誤差）。

• 部分廠家會(huì)自定義 “0 級(jí)、1 級(jí)、2 級(jí)" 等標(biāo)識(shí)，本質(zhì)對(duì)應(yīng)上述 “超高精度→高精度→精密級(jí)"，需以廠家給出的 “示值誤差" 參數(shù)為準(zhǔn)，而非僅看等級(jí)名稱。